Réunion ARN

Programme :

SLICES-FR : Présentation et discussions (Thomas Lambert - Maître de conférences à l'Université de Lorraine Loria/Inria Nancy)
Adversarial Robustness of AI Models in Industrial Digital Twins: A Whitebox & Blackbox Attack Study - Maya Melissa Mellaz
Calibrage de modèles de simulateurs IoT à l’aide de données réelles - Rahma MIHOUB
Knowledge distillation des modèles DL des réseaux de communication - Mohamed Ouaddane
From Spectral Imaging for Crop Stress Detection to Camera-Based Visible Light Positioning for Precision Agriculture - Lidices REYES HUNG